Určení podílu amorfní fáze v polykrystalických (nano)práškových materiálech metodou rtg.difrakce
Thesis title in Czech: | Určení podílu amorfní fáze v polykrystalických (nano)práškových materiálech metodou rtg.difrakce |
---|---|
Thesis title in English: | Determination of the amorphous phase content in the polycrystalline (nano-sized) powders by means of x-ray diffraction |
Key words: | rtg.difrakce, kvantitativní analýza, Rietveldova metoda |
English key words: | x-ray diffraction, quantitative analysis, Rietveld method |
Academic year of topic announcement: | 2014/2015 |
Thesis type: | project |
Thesis language: | čeština |
Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
Supervisor: | doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D. |
Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
Date of registration: | 20.10.2014 |
Date of assignment: | 02.02.2015 |
Confirmed by Study dept. on: | 16.09.2016 |
Guidelines |
1. seznámení s kinematickou teorií rtg.difrakce
2. kvantitativní metody rtg.difrakce 3. aplikace metod kvantitativní rtg.difrakční analýzy na stanovení amorfního podílu 4. ověření navržených postupů pomocí kalibračních vzorků 5. aplikace na reálné vzorky |
References |
[1] V. Valvoda a kol., Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha 1992
[2] H.P. Klug, L.E. Alexander, X-Ray Diffraction Procedures: For Polycrystalline and Amorphous Materials, Wiley-Interscience; 2nd edition (May 1974) [3] vybrané články z odborných periodik |
Preliminary scope of work |
Metoda difrakce rtg. záření je používána ke studiu krystalové struktury látek. Umožňuje stanovit jaké krystalografické fáze jsou ve vzorku přítomny (kvalitativní analýza) i jejich podíl (kvantitativní analýza). Během přípravy zejména nanopráškových materiálů, popř. při studiu krystalizace, je ve vzorcích přítomen i podíl, který není krystalický. Tj. metodami rtg.difrakce je prakticky neviditelný. Přesto je stanovení jeho podílu (objemová, hmotnostní procenta) důležitým údajem pro studovaný materiál.
Projekt je zaměřen na odvození metody stanovení amorfního podílu pomocí metod běžně užívaných při kvantitativní rtg.difrakční analýze krystalických látek. Práce je svým zaměřením experimentální. Projekt je vhodný pro studenty libovolného ročníku FOF a FAF. |
Preliminary scope of work in English |
X-ray diffraction is widely used namely for investigation of crystalline material. This method can determine the crystalographic phases within the sample (qualitative analysis) and the amount of given phases (quantitative analysis) as well. An amorphous phase can occur in the sample during the sample treatment especially for nano-powders or by the crystallization study. The amorphous phase is almost invisible for x-ray diffraction methods. Despite of this is the determination of amorphous phase content very important.
The proposed project is devoted to derivation of the method for determination of the amount of the amorphous phase by using conventional methods of quantitative x-ray analysis. The project is mainly experimental. The project is suitable for students of physics in any semester. |