Vliv přípravy povrchu na fotovodivost

• Thesis title in Czech: Vliv přípravy povrchu na fotovodivost
• Thesis title in English: Surface preparation impact on photoconductivity
• Academic year of topic announcement: 2016/2017
• Thesis type: project
• Thesis language: čeština
• Department: Institute of Physics of Charles University (32-FUUK)
• Supervisor: prof. Ing. Jan Franc, DrSc.

Guidelines

Zásady pro vypracování:
1. Prostudovat literaturu o bezkontaktním měření odporu a fotovodivosti.
2. Seznámit se s aparaturou COREMA a Zygo.
3. Naměřit profil povrchu připravených vzorků CdTe.
4. Naměřit odpor a fotovodivost pomocí zdroje světla o dvou vlnových délkách
5. Vyhodnotit výsledky v závislosti na připraveném povrchu.

References

1. R. Stibal, J. Windscheif, W. Jantz, Contactless evaluation of semiinsulating GaAs wafer resistivity using time-dependent charge measurements, Semicond. Sci. Technol. 6, 995 (1991).
2. D.K.Schroeder, Semiconductor Material and device characterization, John Wiley and Sons, New York, 1998, p.1-55
3. J. Crocco, H. Bensalah, Q. Zheng, F. Dierre, P. Hidalgo, J. Carrascal, O. Vela, J. Piqueras, and E. Dieguéz, Study ot the Effects of Edge Morphology on Detector Performance by Leakage Current and Cathodoluminescence, IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol. 50, No. 4, 2011, p. 1935-1941

Preliminary scope of work

Bezkontaktní metoda COREMA nabízí způsob, jak rychle zjistit rozložení odporu polovodičových materiálů jako CdTe, GaAs používaných k výrobě detektorů rentgenového a gama záření. Detektory jsou obecně charakterizovány elekto-optickými měřeními jako je fotovodivost nebo TEES. K tomu ale musí být vzorky okontaktovány. Studie poukazují na závislost kvality detektorových materiálů na přípravě povrchu. Bezkontaktní charakterizace nabízí nové možnosti studií vlastností opracování materiálu před finalizací detektorů.
Cílem projektu je stanovení závislosti bezkontaktní fotovodivosti se zdrojem světla na dvou vlnových délkách na přípravě povrchu vzorků CdTe.