Spektroskopická elipsometrie tenkých plazmově polymerních vrstev
| Thesis title in Czech: | Spektroskopická elipsometrie tenkých plazmově polymerních vrstev |
|---|---|
| Thesis title in English: | Spektroskopic ellipsometry of thin plasma polymer films |
| Key words: | elipsometrie, plazmová polymerace |
| English key words: | ellipsometry, plasma polymerization |
| Academic year of topic announcement: | 2016/2017 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Department of Macromolecular Physics (32-KMF) |
| Supervisor: | Mgr. Jaroslav Kousal, Ph.D. |
| Author: |
| Guidelines |
| 1) Seznámit se s teoretickými i praktickými principy spektroskopické elipsometrie a plazmové polymerace
2) Určit za pomoci vhodných elipsometrických modelů optické i vybrané fyzikálně-chemické vlastnosti plazmových polymerů 3) Vypracovat práci |
| References |
| Plasma polymer films, ed. H. Biederman, Imperial College Press, London 2004
Spectroscopic ellipsometry : principles and applications, H. Fujiwara., Wiley, Chichester, 2007 |
| Preliminary scope of work |
| Rozsáhlým a aplikačně významným oborem je modifikace povrchů látek pomocí depozice tenkých vrstev v plazmatu. Specifickou skupinou těchto povrchů jsou takzvané plazmové polymery a jejich nanokompozity. Lze takto připravit povrchy se zajímavými elektrickými, biologickými i optickými vlastnostmi.
Spektroskopická elipsometrie je metoda umožňující stanovení optických vlastností tenkých vrstev. Ve spojení s modelem spojujícím optické a fyzikálně chemické vlastnosti materiálu je tak možno určovat i další parametry zkoumané vrstvy (složení, strukturu apod.). Náplní práce bude teoretické i praktické seznámení s metodou spektroskopické elipsometrie a s optickými vlastnostmi plazmových polymerů a jejich kompozitů. Následně budou naměřeny a zpracovány parametry vhodných plazmově polymerních vrstev. Práci lze zaměřit převážně experimentálně i převážně teoreticky. |
| Preliminary scope of work in English |
| Modification of surfaces by plasma deposition of thin films is broad field with many applications. One type of these surfaces are so called plasma polymers and their nanocomposites. Using these materials, surfaces with interesting electrical, biological and optical properties can be prepared.
Spectroscopic ellipsometry is a method of characterization of optical properties of thin films. When a model that connects optical and physico-chemical properties of the material is used, it is possible to assess additional parameters of the film (composition, structure, etc.). The work will focus on theoterical and practical aspects of spectroscopic ellipsometry and optical properties of plasma polymers and their nanocomposites. Subsequently, selected plasma polymer films will be characterized. The work can be focused more experimentally as well as more theoretically. |