Zvýšení kontrastu zobrazeni nanostruktur v STM měřením derivace profilu povrchu pomocí lock-in techniky
| Thesis title in Czech: | Zvýšení kontrastu zobrazeni nanostruktur v STM měřením derivace profilu povrchu pomocí lock-in techniky |
|---|---|
| Thesis title in English: | Contrast enhancement of nanostructures imaging in STM by a direct profile derivative measurement using lock-in technique |
| Academic year of topic announcement: | 2012/2013 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP) |
| Supervisor: | doc. RNDr. Pavel Sobotík, CSc. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 27.09.2012 |
| Date of assignment: | 12.10.2012 |
| Confirmed by Study dept. on: | 17.01.2013 |
| Date and time of defence: | 12.09.2013 00:00 |
| Date of electronic submission: | 30.07.2013 |
| Date of submission of printed version: | 30.07.2013 |
| Date of proceeded defence: | 12.09.2013 |
| Opponents: | Mgr. Filip Dvořák, Ph.D. |
| Guidelines |
| 1) Seznámení se s metodou synchronní detekce signálů.
2) Seznámit se s konkrétním lock-in zesilovačem firmy Femto. 3) Vestavba lock-in zesilovače do stávající STM elektroniky, otestování funkce. 4) Měření derivace profilů na čistém povrchu Si a bimetalických nanostrukturách na površích Si. |
| References |
| 1. Bai C.: Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci.32, Berlin-Heidelberg, New York 1992.
2. Methods of experimental physics: Scanning tunneling microscopy, ed.by J.A.Stroscio,W.J.Kaiser, Academic Press Ltd.,1993. |
| Preliminary scope of work |
| Technika STM je velmi perspektivní v souvislostí s rozvojem nanotechnologií. STM a nc-AFM jako jediné techniky umožňují přímou manipulaci s jednotlivými atomy a molekulami na povrchu, vytváření definovaných struktur v atomárním měřítku, a jejich následné zobrazení.
Obraz STM je vytvářen snímáním signálu souvisejícího s výškou hrotu nad povrchem. Zjednodušeně lze říci, že větší změny výšky souvisí s geometrií povrchu a polohami atomů, menší změny pak odrážejí lokální rozdíly v elektronické struktuře povrchu. Například v případě bimetalického povrchu umožňují odlišit různé atomy. Někdy jsou tyto malé rozdíly maskovány šumem zařízení. Pak je možno měřit první derivaci výškových profilů s využitím synchronní detekce, která umožňuje získat užitečný signál i z velmi zašuměného signálu. Tímto způsobem lze zvětšit vertikální citlivost STM. Práce je zaměřena na implementaci této techniky do stávajícího experimentálního zařízení STM ve skupině tenkých vrstev a její otestování na strukturách, které jsou zde v současnosti studovány. Práce je experimentálního rázu. http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=180 |
| Preliminary scope of work in English |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=180 |