Thesis (Selection of subject)Thesis (Selection of subject)(version: 390)
Thesis details
   Login via CAS
Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu
Thesis title in thesis language (Slovak): Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu
Thesis title in Czech: Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu
Thesis title in English: Preparation of nanostructure samples in SEM/FIB and their study in TEM
Key words: oxid céru, lamela, SEM, TEM, FIB
English key words: cerium oxide, lamella, SEM, TEM, FIB
Academic year of topic announcement: 2011/2012
Thesis type: diploma thesis
Thesis language: slovenština
Department: Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP)
Supervisor: prof. Mgr. Iva Matolínová, Dr.
Author: hidden - assigned and confirmed by the Study Dept.
Date of registration: 13.12.2011
Date of assignment: 14.12.2011
Confirmed by Study dept. on: 20.01.2012
Date and time of defence: 18.05.2012 00:00
Date of electronic submission:24.04.2012
Date of submission of printed version:24.04.2012
Date of proceeded defence: 18.05.2012
Opponents: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc.
 
 
 
Advisors: prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Guidelines
1) Bibliografická rešerše.
2) Zvládnutí základních funkcí ovládání SEM a FIB.
3) Příprava lamel a jejich kontaktování v SEM/FIB s cílem přenesení na povrch mřížky pro TEM.
4) Studium struktury tenkých vrstev elektronovou mikroskopií.
5) Vyhodnocení výsledků a sepsání diplomové práce.
References
1) NANOTECHNOLOGY IN CATALYSIS, B. Zhou, S. Han, R. Raja, G.A. Somorjai, Springer, ISBN 978-0387-34687-8, New York 2007.
2) Physical Principles of Electron Microscopy, R. F. Egerton, Springer, ISBN 978-0387-25800-0, Edmonton, Kanada 2007.
3) PHYSICS AND CHEMISTRY OF INTERFACES, H-J Butt, K. Graf, M. Kappl, Willey-VCH, ISBN 978-3-527-40629-6, Weinheim 2006.
4) R. Wirth, Chemical Geology 261 (2009) 217.
Preliminary scope of work
Fyzikální a chemické vlastnosti materiálů jsou významně ovlivněny jejich strukturou a chemickým složením. Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) je mocným nástrojem pro komplexní charakterizaci široké škály materiálů. Vyžaduje však specifickou přípravu vzorků, speciálně v případě velmi tenkých vrstev. Fokusovaný svazek iontů (FIB), který pracuje na principu odprašování materiálu urychlenými těžkými ionty (např. Ga+), je ideálním nástrojem pro přípravu vzorků pro TEM, neboť dokáže opracovat materiály do podoby velmi tenké folie, která je pro elektrony s vysokou energií průhledná.

V rámci vypsané práce budou v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) LYRA v kombinaci s fokusovaným svazkem iontů (FIB) studovány možnosti vytváření lamel různých materiálů. Parametry přípravy budou optimalizovány tak, aby výsledná tloušťka lamel po vyleštění povrchu dosahovala přibližně 80 nm. Speciální pozornost bude zaměřena na typ ochranné vrstvy. Připravené lamely budou pomocí integrovaného nanomanipulátoru přeneseny a uchyceny na mřížce pro TEM. Struktura velmi tenkých vrstev bude studována v TEM s vysokým rozlišením (HRTEM) či v řádkovacím modu (STEM). Chemické složení vrstev bude charakterizováno pomocí energiově disperzní rentgenovské spektroskopie (EDX) a spektroskopií charakteristických ztrát (EELS).

http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=640
Preliminary scope of work in English
http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=640
 
Charles University | Information system of Charles University | http://www.cuni.cz/UKEN-329.html