Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu
| Thesis title in thesis language (Slovak): | Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu |
|---|---|
| Thesis title in Czech: | Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu |
| Thesis title in English: | Preparation of nanostructure samples in SEM/FIB and their study in TEM |
| Key words: | oxid céru, lamela, SEM, TEM, FIB |
| English key words: | cerium oxide, lamella, SEM, TEM, FIB |
| Academic year of topic announcement: | 2011/2012 |
| Thesis type: | diploma thesis |
| Thesis language: | slovenština |
| Department: | Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP) |
| Supervisor: | prof. Mgr. Iva Matolínová, Dr. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 13.12.2011 |
| Date of assignment: | 14.12.2011 |
| Confirmed by Study dept. on: | 20.01.2012 |
| Date and time of defence: | 18.05.2012 00:00 |
| Date of electronic submission: | 24.04.2012 |
| Date of submission of printed version: | 24.04.2012 |
| Date of proceeded defence: | 18.05.2012 |
| Opponents: | doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. |
| Advisors: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Guidelines |
| 1) Bibliografická rešerše.
2) Zvládnutí základních funkcí ovládání SEM a FIB. 3) Příprava lamel a jejich kontaktování v SEM/FIB s cílem přenesení na povrch mřížky pro TEM. 4) Studium struktury tenkých vrstev elektronovou mikroskopií. 5) Vyhodnocení výsledků a sepsání diplomové práce. |
| References |
| 1) NANOTECHNOLOGY IN CATALYSIS, B. Zhou, S. Han, R. Raja, G.A. Somorjai, Springer, ISBN 978-0387-34687-8, New York 2007.
2) Physical Principles of Electron Microscopy, R. F. Egerton, Springer, ISBN 978-0387-25800-0, Edmonton, Kanada 2007. 3) PHYSICS AND CHEMISTRY OF INTERFACES, H-J Butt, K. Graf, M. Kappl, Willey-VCH, ISBN 978-3-527-40629-6, Weinheim 2006. 4) R. Wirth, Chemical Geology 261 (2009) 217. |
| Preliminary scope of work |
| Fyzikální a chemické vlastnosti materiálů jsou významně ovlivněny jejich strukturou a chemickým složením. Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) je mocným nástrojem pro komplexní charakterizaci široké škály materiálů. Vyžaduje však specifickou přípravu vzorků, speciálně v případě velmi tenkých vrstev. Fokusovaný svazek iontů (FIB), který pracuje na principu odprašování materiálu urychlenými těžkými ionty (např. Ga+), je ideálním nástrojem pro přípravu vzorků pro TEM, neboť dokáže opracovat materiály do podoby velmi tenké folie, která je pro elektrony s vysokou energií průhledná.
V rámci vypsané práce budou v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) LYRA v kombinaci s fokusovaným svazkem iontů (FIB) studovány možnosti vytváření lamel různých materiálů. Parametry přípravy budou optimalizovány tak, aby výsledná tloušťka lamel po vyleštění povrchu dosahovala přibližně 80 nm. Speciální pozornost bude zaměřena na typ ochranné vrstvy. Připravené lamely budou pomocí integrovaného nanomanipulátoru přeneseny a uchyceny na mřížce pro TEM. Struktura velmi tenkých vrstev bude studována v TEM s vysokým rozlišením (HRTEM) či v řádkovacím modu (STEM). Chemické složení vrstev bude charakterizováno pomocí energiově disperzní rentgenovské spektroskopie (EDX) a spektroskopií charakteristických ztrát (EELS). http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=640 |
| Preliminary scope of work in English |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=640 |