Reflexní spektroskopická elipsometrie při obecné orientaci magnetického pole

• Název práce v češtině: Reflexní spektroskopická elipsometrie při obecné orientaci magnetického pole
• Název v anglickém jazyce: Reflection spectroscopic ellipsometry for general orientation of magnetic field
• Klíčová slova: magnetooptický Kerrův jev, polarizace světla
• Akademický rok vypsání: 2010/2011
• Typ práce: projekt
• Ústav: Fyzikální ústav UK (32-FUUK)
• Vedoucí / školitel: prof. Ing. Štefan Višňovský, DrSc.
• Řešitel: skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd.
• Datum přihlášení: 08.12.2010
• Datum zadání: 08.12.2010
• Datum proběhlé obhajoby: 19.07.2011

Zásady pro vypracování

V rámci projektu student získá kvalifikaci v oblasti reflexní spektroskopické elipsometrie anizotropních nanostruktur. Objektem studia budou 1D nanostruktury s feromagnetickou vrstvou uzavřenou v dielektrickém rezonátoru navrženém s cílem optimalizace optické odezvy na magnetická pole. Motivací výzkumu je studium senzorů mapujících rozložení magnetických polí na polovodičových mikročipech pracujících na frekvencích desítek GHz, který na pracovišti Fyzikálního ústavu probíhá ve spolupráci s laboratoří University of Colorado at Colorado Springs v USA. V rámci projektu student prohloubí své znalosti o maticovém popisu polarizace a seznámí se s popisem optické odezvy v anizotropních 1D nanostrukturách v rozsahu, které umožní předpověď odezvy při obecné orientaci magnetizace. Na jejich základě se bude podílet na rozšíření experimentální metody směřující k vektorové magnetometrii polí nad čipem.

Konsultant - Eva Lišková

Seznam odborné literatury

Ellipsometry and polarized light - R.M.A. Azzam, N.M. Bashara, North Holland (August 15, 1988)
Modern Magnetooptics and Magnetooptical Materials - A.K. Zvezdin, V.A. Kotov, Institute of Physics Pub. in Bristol, Philadelphia (January 1, 1997)
Optics in Magnetic Multilayers and Nanostructures - S. Visnovsky, CRC Press (March 6, 2006)
časopisecká literatúra