Dynamická rtg difrakce na vrstevnatých systémech
| Název práce v češtině: | Dynamická rtg difrakce na vrstevnatých systémech |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Dynamical diffraction of x-rays on layered systems |
| Akademický rok vypsání: | 2005/2006 |
| Typ práce: | diplomová práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. |
| Řešitel: |
| Seznam odborné literatury |
| A. Authier, Dynamical Theory of X-Ray Diffraction, Oxford Univ. Press, Oxford 2001.
V. Holý, U. Pietsch and T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers, Springer-Verlag Berlin, Heidelberg, New York 1999. |
| Předběžná náplň práce |
| Konvenční dynamická teorie difrakce se používá pro výpočet rtg vlnového pole v dokonalých krystalech a ve vrstevnatých systémech. V případě velmi tenkých vrstev se obvykle dynamická teorie nahrazuje kinematickou aproximací (tj. 1. Bornovou aproximací v teorii rozptylu). Tento postup je korektní v případě, je-li difrakční mohutnost tenké vrstvy malá. V poslední době se ovšem setkáváme s experimenty, v nichž i velmi tenké vrstvy velmi silně difraktují (tzv. grazing-incidence difrakce) a použití kinematického popisu není proto vhodné. Cílem diplomové práce bude zformulovat rovnice dynamické difrakce pro tenký krystal a pokusit se o jejich numerické řešení a srovnání s kinematickým výpočtem.
Práce je teoretické a výpočtové povahy a je vhodná pro studenta s velmi dobrými znalostmi fyziky pevných látek, matematické analýzy a programování. |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| Conventional dynamical theory of x-ray diffraction is frequently used for the calculation of x-ray wavefields in perfect crystals and layered systems. In the case of very thin layers this approach is usually replaced by kinematical theory (i.e., by the first Born approximation in the scattering theory). This approach is correct if the scattering process in the layer is weak. Recently, a row of experimental methods appeared, in which this assumption is not met (e.g. in the grazing-incidence geometry), so that the kinematical method is no more suitable. The aim of the work is to find exact formulas describing dynamical x-ray diffraction in a thin layered system and to find a method for their numerical evaluation. The results will be compared with standard kinematical and dynamical simulations.
The work is mainly theoretical, a good knowledge of solid-state physics, mathematical calculus and programming is necessary. |