Témata prací (Výběr práce)Témata prací (Výběr práce)(verze: 384)
Detail práce
   Přihlásit přes CAS
Studium vlivu miscutu na epitaxní vztah tenkých pyrochlorických (super)vrstev na subtrátech s orientací (111)
Název práce v češtině: Studium vlivu miscutu na epitaxní vztah tenkých pyrochlorických (super)vrstev na subtrátech s orientací (111)
Název v anglickém jazyce: Study of epitaxial relation of pyrochlore (super)layers on (111) miscut substrates
Klíčová slova: pyrochlory|rtg reflektivita|rtg difrakce|mapování reciprokého prostoru
Klíčová slova anglicky: pyrochlore|x-ray reflectometry|x-ray diffraction|reciprocal space mapping
Akademický rok vypsání: 2024/2025
Typ práce: bakalářská práce
Jazyk práce:
Ústav: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Vedoucí / školitel: Mgr. Lukáš Horák, Ph.D.
Řešitel:
Zásady pro vypracování
Budou měřeny série epitaxních pyrochlorických iridátových vrstvev na isostrukturních substrátech s orientací povrchu (111). Cílem bude objasnit vliv miscutu povrchu na epitaxní vztah relaxovaných vrstvev a substrátů. Miscut bude stanoven pomocí rtg reflektometrie a rtg difrakce. Vzájemná krystalografická orientace a mřížové parametry budou určeny z experimentálních reciprokých map.
Předpokládá se následný průběh řešení:
1. zvládnutí teoretických základů teorie RTG rozptylu
3. změření reflektivních křivek a difrakčních recpirokých map pro sadu vzorků epitaxních pyrochlorických iridátových vrstvev
4. určení miscutu daných substrátů
5. určení epitaxního vztahu mezi vrstvou a isostrukturním substrátem, určení případné distorze základní buňky vrstvy
Seznam odborné literatury
[1] V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha, 1992
[2] Pietsch, U., Holý, V., & Tilo Baumbach. (2004). High-resolution X-ray scattering from Thin Films and Lateral Nanostructures (Second). New York: Springer.
[3] Als-Nielsen, J., & McMorrow, D. (2001). Elements of Modern X-Ray Physics. New York: Wiley.
 
Univerzita Karlova | Informační systém UK