Témata prací (Výběr práce)Témata prací (Výběr práce)(verze: 239)
Detail práce
   Přihlásit přes CAS
Nízkoteplotní rtg difrakce
Název práce v češtině: Nízkoteplotní rtg difrakce
Název v anglickém jazyce: Low-temperature x-ray diffraction
Klíčová slova: rtg difrakce, monokrystaly, epitaxní vrstvy, nízké teploty
Klíčová slova anglicky: x-ray diffraction, single crystal, epitaxial layers, low temperatures
Akademický rok vypsání: 2016/2017
Typ práce: bakalářská práce
Jazyk práce:
Ústav: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Vedoucí / školitel: prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
Řešitel:
Zásady pro vypracování
Rtg difrakce je základní experimentální metoda pro stanovení parametrů krystalové mřížky a pro určení poloh atomů v elementární buňce. V rtg laboratoři Katedry fyziky kondenzovaných látek máme k dispozici rtg difraktometr s He kryostatem s uzavřeným cyklem, který umožňuje měřit za nízkých teplot (do asi 3K) a studovat tak nízkoteplotní změny mřížkových parametrů a fázové transformace. Nedávno byl difraktometr vybaven otočným stolkem umožňujícím nízkoteplotní měření rtg difrakce na monokrystalech a epitaxních tenkých vrstvách. Cílem práce je důkladné ověření reprodukovatelnosti měření a kalibrace teplotních čidel v difraktometru. Bude proměřena sada monokrystalických a tenkovrstevných vzorků se známou závislostí mřížkových parametrů na teplotě a bude tak stanovena korekční křivka teplotních čidel. Měření bude provedeno pro různé držáky vzorku, které mohou vykazovat různý tepelný odpor. Práce je vhodná pro studenty s dobrými znalostmi základů fyziky pevných látek a s dostatečnou experimentální zručností.
Seznam odborné literatury
U. Pietsch, V. Holý, T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer; 2nd edition (2004)
Předběžná náplň práce
Rtg difrakce na tenkých vrstvách a monokrystalech bude měřena v nízkoteplotním difraktometru za He teplot do 3K. Pro různé způsoby uchycení vzorku bude stanovena korekční křivka teplotních čidel v difraktometru.
Předběžná náplň práce v anglickém jazyce
X-ray diffraction from single crystals and epitaxial thin layers will be measured at very low temperatures down to 3K, using an x-ray diffractometer equipped with a closed-cycle cryostat. From the experimental data the correction factors of temerature sensors in the cryostat will be determined for various types of the thermal contact between the sample and the sample holder
 
Univerzita Karlova | Informační systém UK