Témata prací (Výběr práce)Témata prací (Výběr práce)(verze: 255)
Detail práce
   Přihlásit přes CAS
Výpočet difrakčního profilu vzorku s defekty
Název práce v češtině: Výpočet difrakčního profilu vzorku s defekty
Název v anglickém jazyce: Simulation of diffraction profiles from samples with defects
Klíčová slova: defekty v krystalu, rtg. difrakce, dislokace
Klíčová slova anglicky: crystal defects, x-ray diffraction, dislocations
Akademický rok vypsání: 2016/2017
Typ práce: bakalářská práce
Jazyk práce:
Ústav: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Vedoucí / školitel: Mgr. Zdeněk Matěj, Ph.D.
Řešitel:
Zásady pro vypracování
Práce je výpočetní povahy.

1. studium odborné literatury
2. vytvoření/upravení programu na simulaci rozložení defektů, výpočet deformačního pole a tvaru difrakčních profilů
3. srovnání simulací s analytickými modely (případně měřenými daty)

Předpoklady: znalosti z přednášek základního kurzu fyziky, zájem o numerické výpočty.
Seznam odborné literatury
1. V. M. Kaganer, K.K. Sabelfeld, Acta Crystallographica A (2010), 66, 703-716.
2. V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč, Základy Strukturní Analýzy, UK Praha 1992. (vybrané kapitoly)
3. J.-D. Kamminga, R. Delhez, J. Appl. Cryst. (2000), 33, 1122-1127.
4. Aktualní články na dané téma.
Předběžná náplň práce
Poruchy v krystalové struktuře látek lze přímo pozorovat mimo jiné elektronovým mikroskopem. Kvantitativní analýza obrázků z mikroskopu, např. určení hustoty defektů, může být ovšem velmi pracná. Proto jsou užitečné i nepřímé metody studia defektů v krystalu jako je difrakce rtg. záření. Deformační pole spojené s poruchami krystalické mříže způsobuje posun atomů v mřížce krystalu a rozšiřuje difrakční píky. Cílem práce je simulovat různá rozložení defektů, pomocí vztahů kontinuální teorie elasticity vypočítat jejich deformační pole a spočítat difrakční profil. Výsledky simulací lze nakonec porovnat s analytickými vztahy, které se dnes používají pro výpočet tvaru difrakčních píků, případně i přímo s experimentálními daty.

Další informace:
http://www.xray.cz/tmp/bak-rtg-simulace-defekty-z.pdf
Předběžná náplň práce v anglickém jazyce
Crystal lattice defects can be observed using various methods, for instance electron microscopy. Quantitative analysis of microscope images, for example determination of the defects density, can be difficult. This is a case when indirect methods such as x-ray diffraction are useful. Deformation field, related to defects in the lattice, affects atoms positions in the lattice and induces broadening of diffraction peaks. The aim of the work is to simulate various defects arrangements, calculate deformation field using the theory of elasticity and calculate diffraction profile. Simulation results should be finally compared with analytical formulas used for calculation of the shape of diffraction peaks or even further with experimental data.
 
Univerzita Karlova | Informační systém UK