Studium magnetických domén pomocí mikroskopie magnetických sil
| Název práce v češtině: | Studium magnetických domén pomocí mikroskopie magnetických sil |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Magnetic Domain Imaging Using Magnetic Force Microscopy |
| Klíčová slova: | Mikroskopie atomárnách sil, mikroskopie magnetických sil, feromagnetismus, doménová struktura, |
| Klíčová slova anglicky: | Atomic Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, ferromagnetism, domain structure |
| Akademický rok vypsání: | 2015/2016 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Klára Uhlířová, Ph.D. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 27.10.2015 |
| Datum zadání: | 27.10.2015 |
| Datum potvrzení stud. oddělením: | 26.01.2016 |
| Datum a čas obhajoby: | 26.06.2018 09:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 04.01.2018 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 12.01.2018 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 26.06.2018 |
| Oponenti: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| 1. Základní pochopení studované problematiky, studium literatury
2. Zvládnutí základních principů metody mikroskopie atomárních sil a mikroskopie magnetických sil, optimalizace parametrů 3. Studium magnetických domén vybraných feromagnetických materiálů 4. Vyhodnocení a interpretace naměřených výsledků 5. Prezentace výsledků, sepsání a odevzdání práce |
| Seznam odborné literatury |
| 1. Manuál k Mikroskopu Bruker Multimode, Bruker Dinemnsion
2. V.L Mironov, Fundamentals of the scanning probe microscopy, Nizhniy Novgorod, 2004 |
| Předběžná náplň práce |
| Existence a konečná velikost a tvar magnetických domén jsou dány rovnováhou mezi dipólovou energií, energií doménových stěn a energií magnetické anizotropie. Tyto parametry záleží na typu materiálu, jeho formě či na magnetické historii vzorku.
Významnou metodou pro studium uspořádání magnetických domén je mikroskopie magnetických sil (MFM). Tato metoda je odvozená od mikroskopie atomárních sil (AFM). Jedná se tedy o povrchovou metodu pomocí níž studujeme lokální silové působení mezi rastrujícím magnetickým hrotem a vzorkem. Student(ka) získá dovednosti z oblasti AFM a od ní odvozené metody MFM. Seznámí se s požadavky na volbu hrotů a s vlivem úpravy povrchu na doménovou strukturu a kvalitu signálu. V práci je možné pokračovat v rámci magisterského studia, ale zároveň respektujeme právo studentky/studenta na změnu tématu, školiteky/školitele, nebo volbu jiného oboru. |