Electronic and structural properties of model catalysts based on cerium oxide
| Název práce v češtině: | Elektronické a strukturní vlastnosti modelových katalyzátorů na bázi oxidu ceru |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Electronic and structural properties of model catalysts based on cerium oxide |
| Klíčová slova: | heterogenní katalýza, oxid ceru, kyslíkové vakance, fotoemisní spektroskopie |
| Klíčová slova anglicky: | heterogeneous catalysis, cerium oxide, oxygen vacancies, photoemission spectroscopy |
| Akademický rok vypsání: | 2013/2014 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | angličtina |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Kateřina Veltruská, CSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 27.09.2013 |
| Datum zadání: | 27.09.2013 |
| Datum potvrzení stud. oddělením: | 11.12.2013 |
| Datum a čas obhajoby: | 14.09.2017 09:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 28.06.2017 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 28.06.2017 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 14.09.2017 |
| Oponenti: | prof. RNDr. Igor Bartoš, DrSc. |
| Jolla Kullgren | |
| Konzultanti: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Zásady pro vypracování |
| Mechanismy, probíhající v reálných katalyzátorech jsou vzhledem k jejich komplikovanému složení a struktuře, složitým problémem. K objasnění těchto mechanismů značnou měrou přispívají studia na modelových katalyzátorech – tenkých epitaxních vrstvách na kovových substrátech. Ve skupině povrchů se již delší dobu pracuje na systému CeO2/Cu(111), kde byla studována interakce s katalyticky aktivními kovy a zkoumána interakce s plyny. Nedávno se podařilo připravit unikátní epitaxní systém Ce2O3/Cu(111).
Práce bude zaměřena na přípravu a studium výše zmíněných systémů s důrazem na Ce2O3/Cu(111). Systémy budou připraveny in situ reaktivním napařováním a studovány metodami fotoelektronové spektroskopie – rentgenovskou (XPS), ultrafialovou (UPS) a zejména jejich úhlově rozlišenými modifikacemi (XPD a ARUPS), které umožní získat podrobné informace o chemickém složení, prostorové a elektronové struktuře (včetně pásové struktury), interakci deponovaných kovů se substrátem a další. K charakterizaci budou použity i další metody dostupné na aparatuře - elektronová difrakce (LEED) a spektroskopie rozptýlených iontů (ISS). Na připravených površích bude studována adsorpce jednoduchých plynů, opět výše zmíněnými metodami. Práce bude probíhat na UHV aparaturách vybavených komerčními spektrometry. Předpokládá se, že část experimentů prováděna na spektrometru optické dráhy MSB v Terstu, případně na jiných synchrotronech. Zásady pro vypracování: 1. Studium literatury. 2. Příprava vrstev CeOx – čistých i dopovaných katalyticky aktivními kovy. 3. Charakterizace metodami XPS, LEED, ISS, XPD, ARUPS. 4. Zpracování dat. |
| Seznam odborné literatury |
| 1. D. Briggs, M.P. Seah: Practical Surface Analysis, vol. 2 - Auger and X-ray Photoelectron spectroscopy, Wiley, 1990, ISBN 0-471-92081-9.
2. Hufner: Photolectron Spectroscopy, Springer, 2003, ISBN 3-540-41802-4. 3. C. Julian Chen, Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford University Press, USA, 2007). 4. Další časopisecká literatura po dohodě s vedoucím práce. |
| Předběžná náplň práce |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dis-abs.php?id=289 |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dis-abs.php?id=289 |