Optické parametry tenkých multivrstev
| Název práce v češtině: | Optické parametry tenkých multivrstev |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Optical parameters of thin multilayers |
| Klíčová slova: | tenké vrstvy, metody charakterizace |
| Klíčová slova anglicky: | thin layers, methods of characterization |
| Akademický rok vypsání: | 2018/2019 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
| Vedoucí / školitel: | prof. Ing. Jan Franc, DrSc. |
| Řešitel: |
| Zásady pro vypracování |
| 1. Prostudovat literaturu ke stanovení optických parametrů vrstevnatých systémů
2. Seznámit se s aparaturou pro měření optické odezvy materiálů elipsometrickou metodou 3. Proměřit soubor vzorků multivrstev 4. Analyzovat výsledky měření a porovnat závislosti optických parametrů vzorků v závislosti na vlnové délce dopadajícího záření |
| Seznam odborné literatury |
| P. Malý, Optika, Karolinum 2008 |
| Předběžná náplň práce |
| Cílem práce je komplexní stanovení optické odezvy tenkých multivrstev připravených technologiemi napařování a naprašování na skleněných substátech s cílem optimalizace
opticko-fyzikálních parametrů (odrazivosti, indexu lomu) v širokém rozsahu vlnových délek světelného záření. |