Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB)
| Název práce v jazyce práce (slovenština): | Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB) |
|---|---|
| Název práce v češtině: | Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB) |
| Název v anglickém jazyce: | Focused ion beam sample preparation for transmission elektron microscopy |
| Klíčová slova: | SEM, FIB, lamela, TEM |
| Klíčová slova anglicky: | SEM, FIB, lamela, TEM |
| Akademický rok vypsání: | 2010/2011 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | slovenština |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | prof. Mgr. Iva Matolínová, Dr. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 03.11.2010 |
| Datum zadání: | 03.11.2010 |
| Datum a čas obhajoby: | 23.06.2011 00:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 27.05.2011 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 27.05.2011 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 23.06.2011 |
| Oponenti: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Zásady pro vypracování |
| 1. Bibliografická rešerše.
2. Zvládnutí základních funkcí ovládání SEM a FIB. 3. Příprava lamel a jejich kontaktování s cílem přenesení na povrch mřížky pro TEM. 4. Vyhodnocení výsledků a sepsání diplomové práce. |
| Seznam odborné literatury |
| 1) NANOTECHNOLOGY IN CATALYSIS, B. Zhou, S. Han, R. Raja, G.A. Somorjai, Springer, ISBN 978-0387-34687-8, New York 2007.
2) Physical Principles of Elektron Microscopy, R. F. Egerton, Springer, ISBN 978-0387-25800-0, Edmonton, Kanada 2007. 3) R. Wirth, Chemical Geology 261 (2009) 217. |
| Předběžná náplň práce |
| Fyzikální a chemické vlastnosti materiálů jsou významně ovlivněny jejich strukturou a chemickým složením. Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) je mocným nástrojem pro komplexní charakterizaci široké škály materiálů. Vyžaduje však specifickou přípravu vzorků. Fokusovaný svazek iontů (FIB), který pracuje na principu odprašování materiálu urychlenými těžkými ionty (často Ga+), je ideálním nástrojem pro přípravu vzorků pro TEM, neboť dokáže opracovat materiály do podoby velmi tenké folie. Typické rozměry lamely, která je pro elektrony s vysokou energií průhledná, jsou 15 x 10 x 0.15 ?m a doba procesu přípravy je okolo 4 h.
V rámci vypsané práce budou v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) LYRA studovány možnosti vytváření lamel různých materiálů. Parametry přípravy budou optimalizovány tak, aby výsledná tloušťka lamel po vyleštění povrchu dosahovala přibližně 80 nm. Připravené lamely budou pomocí nanomanipulátoru přeneseny a uchyceny na mřížce pro TEM. http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=143 |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=143 |