Určení neznámé struktury epitaxně stabilizovaných vrstev

• Název práce v češtině: Určení neznámé struktury epitaxně stabilizovaných vrstev
• Název v anglickém jazyce: Structure determination of epitaxially stabilized layers
• Klíčová slova: rtg difrakce|epitaxní vrstva|určení struktury|MgIrO3
• Klíčová slova anglicky: x-ray diffraction|epitaxial layer|structure determination|MgIrO3
• Akademický rok vypsání: 2024/2025
• Typ práce: bakalářská práce
• Ústav: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
• Vedoucí / školitel: Mgr. Lukáš Horák, Ph.D.

Zásady pro vypracování

Cílem práce je určení neznámé struktury tenké epitaxně stabilizované vrstvy MgIrO3. Stuktura bude určena z širokých reciprokých map a vysokorozlišující RTG difrakce. Prostředkem bude extrahování strukturních faktorů z experimentálních dat. K tomu bude nutné nalézt a ověřit všechny instrumentální korekce intenzit pro použitý difraktrometr. Dílčí úkoly lze shrnout do těcho bodů:
1. Zvládnutí teorie difrakce RTG záření
2. Formulování vztahů pro výpočet intenzity záření difraktovaného v tenké vrstvě, zahrnutí experiementálních aberací u měření širokých reciproých map
3. Měření širokých reciprokých map
4. Měření vysokorozlišující RTG difrakce dle výsledků širokých map.
5. Extrahování strukturní faktoru z měření (užití instrumentálních korekcí)
6. Určení struktury ze získaných strukturních faktorů

Seznam odborné literatury

[1] V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha, 1992
[2] Pietsch, U., Holý, V., & Tilo Baumbach. (2004). High-resolution X-ray scattering from Thin Films and Lateral Nanostructures (Second). New York: Springer.
[3] Als-Nielsen, J., & McMorrow, D. (2001). Elements of Modern X-Ray Physics. New York: Wiley.
[4] Glazer, A. M. (1972). The classification of tilted octahedra in perovskites. Acta Crystallographica Section B Structural Crystallography and Crystal Chemistry, 28(11), 3384–3392. https://doi.org/10.1107/S0567740872007976