Studium vlivu miscutu na epitaxní vztah tenkých pyrochlorických (super)vrstev na subtrátech s orientací (111)
Název práce v češtině: | Studium vlivu miscutu na epitaxní vztah tenkých pyrochlorických (super)vrstev na subtrátech s orientací (111) |
---|---|
Název v anglickém jazyce: | Study of epitaxial relation of pyrochlore (super)layers on (111) miscut substrates |
Klíčová slova: | pyrochlory|rtg reflektivita|rtg difrakce|mapování reciprokého prostoru |
Klíčová slova anglicky: | pyrochlore|x-ray reflectometry|x-ray diffraction|reciprocal space mapping |
Akademický rok vypsání: | 2024/2025 |
Typ práce: | bakalářská práce |
Jazyk práce: | |
Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
Vedoucí / školitel: | Mgr. Lukáš Horák, Ph.D. |
Řešitel: |
Zásady pro vypracování |
Budou měřeny série epitaxních pyrochlorických iridátových vrstvev na isostrukturních substrátech s orientací povrchu (111). Cílem bude objasnit vliv miscutu povrchu na epitaxní vztah relaxovaných vrstvev a substrátů. Miscut bude stanoven pomocí rtg reflektometrie a rtg difrakce. Vzájemná krystalografická orientace a mřížové parametry budou určeny z experimentálních reciprokých map.
Předpokládá se následný průběh řešení: 1. zvládnutí teoretických základů teorie RTG rozptylu 3. změření reflektivních křivek a difrakčních recpirokých map pro sadu vzorků epitaxních pyrochlorických iridátových vrstvev 4. určení miscutu daných substrátů 5. určení epitaxního vztahu mezi vrstvou a isostrukturním substrátem, určení případné distorze základní buňky vrstvy |
Seznam odborné literatury |
[1] V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha, 1992
[2] Pietsch, U., Holý, V., & Tilo Baumbach. (2004). High-resolution X-ray scattering from Thin Films and Lateral Nanostructures (Second). New York: Springer. [3] Als-Nielsen, J., & McMorrow, D. (2001). Elements of Modern X-Ray Physics. New York: Wiley. |