Structural defects in II-VI semiconductors
Název práce v češtině: | Strukturní defekty v II-VI polovodičích |
---|---|
Název v anglickém jazyce: | Structural defects in II-VI semiconductors |
Klíčová slova: | CdTe/CdZnTe|defekty|žíhání|Hallův jev|difúze |
Klíčová slova anglicky: | CdTe/CdZnTe|Defects|Annealing|Hall effect|Diffusion |
Akademický rok vypsání: | 2021/2022 |
Typ práce: | rigorózní práce |
Jazyk práce: | angličtina |
Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
Vedoucí / školitel: | doc. Ing. Eduard Belas, CSc. |
Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
Datum přihlášení: | 13.04.2022 |
Datum zadání: | 13.04.2022 |
Datum potvrzení stud. oddělením: | 13.04.2022 |
Datum a čas obhajoby: | 27.04.2022 00:00 |
Datum odevzdání elektronické podoby: | 13.04.2022 |
Datum odevzdání tištěné podoby: | 13.04.2022 |
Datum proběhlé obhajoby: | 27.04.2022 |
Zásady pro vypracování |
1. Seznámit se se strukturou defektů v II-VI polovodičích.
2. Seznámit se s přípravou vzorků a s aparaturami na měření elektrických, galvanomagnetických a optických vlastností vzorků. 3. Seznámit se s aparaturou na žíhání vzorků a s aparaturou na měření za vysokých teplot. 4. Provést žíhání vzorků. 5. Provést charakterizaci vzorků pomocí jednotlivých metod v teplotním intervalu 77-300K a 300K-1200K. 6. Porovnat vlastnosti vzorků před a po žíhání a porovnat s výsledky vysokoteplotních měření. 7. Vyhodnotit vliv teploty na strukturu defektů ve zkoumaných vzorcích. |
Seznam odborné literatury |
1. Diffusion in Solids, P.G.Shewmon, McGraw-Hill Series in Mater.Sci.Engin.,
2. Bulk Crystal Growth of Electronic, Optical and Optoelectronic materials, J.Wiley&Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, England 2005, edit. P.Capper. ISBN 0-470-85142-2 3. Fyzika a Technika Polovodičů, SNTL 1990, edit.H. Frank, ISBN 80-03-00401-2 4. Crystal Growth Technology, J.Wiley&Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, England 2004, edit. H.J.Scheel, T.Fukuda. ISBN 0-471-49524-7 5. Odborné články týkající se dané problematiky |
Předběžná náplň práce |
Polovodivé materiály na bázi CdTe představují významnou skupinu materiálů pro aplikaci v optoelektronice jako detektory záření, solární články, elektrooptické modulátory a rovněž jako podložka pro epitaxní růst polovodiče (HgCd)Te používaného pro detekci infračerveného záření. Pro přípravu materiálu s předem definovanými elektrickými a optickými vlastnostmi je zásadní identifikace jednotlivých strukturních defektů a jejich komplexů zejména ve vztahu k technologii růstu monokrystalu, případně k podmínkám žíhání. Cílem práce bude studium chování strukturních defektů při růstu krystalů nebo následně při jejich žíhání v parách teluru nebo kadmia. Výsledky budou použity k optimalizaci podmínek přípravu materiálu s nízkou koncentrací těchto defektů.
Zájem o vysokohorskou turistiku, lyžování a cyklistiku je vítán. |