Témata prací (Výběr práce)Témata prací (Výběr práce)(verze: 290)
Detail práce
   Přihlásit přes CAS
Spektroskopická elipsometrie tenkých plazmově polymerních vrstev
Název práce v češtině: Spektroskopická elipsometrie tenkých plazmově polymerních vrstev
Název v anglickém jazyce: Spektroskopic ellipsometry of thin plasma polymer films
Klíčová slova: elipsometrie, plazmová polymerace
Klíčová slova anglicky: ellipsometry, plasma polymerization
Akademický rok vypsání: 2016/2017
Typ práce: bakalářská práce
Jazyk práce:
Ústav: Katedra makromolekulární fyziky (32-KMF)
Vedoucí / školitel: Mgr. Jaroslav Kousal, Ph.D.
Řešitel:
Zásady pro vypracování
1) Seznámit se s teoretickými i praktickými principy spektroskopické elipsometrie a plazmové polymerace
2) Určit za pomoci vhodných elipsometrických modelů optické i vybrané fyzikálně-chemické vlastnosti plazmových polymerů
3) Vypracovat práci
Seznam odborné literatury
Plasma polymer films, ed. H. Biederman, Imperial College Press, London 2004
Spectroscopic ellipsometry : principles and applications, H. Fujiwara., Wiley, Chichester, 2007
Předběžná náplň práce
Rozsáhlým a aplikačně významným oborem je modifikace povrchů látek pomocí depozice tenkých vrstev v plazmatu. Specifickou skupinou těchto povrchů jsou takzvané plazmové polymery a jejich nanokompozity. Lze takto připravit povrchy se zajímavými elektrickými, biologickými i optickými vlastnostmi.

Spektroskopická elipsometrie je metoda umožňující stanovení optických vlastností tenkých vrstev. Ve spojení s modelem spojujícím optické a fyzikálně chemické vlastnosti materiálu je tak možno určovat i další parametry zkoumané vrstvy (složení, strukturu apod.).

Náplní práce bude teoretické i praktické seznámení s metodou spektroskopické elipsometrie a s optickými vlastnostmi plazmových polymerů a jejich kompozitů. Následně budou naměřeny a zpracovány parametry vhodných plazmově polymerních vrstev.

Práci lze zaměřit převážně experimentálně i převážně teoreticky.
Předběžná náplň práce v anglickém jazyce
Modification of surfaces by plasma deposition of thin films is broad field with many applications. One type of these surfaces are so called plasma polymers and their nanocomposites. Using these materials, surfaces with interesting electrical, biological and optical properties can be prepared.

Spectroscopic ellipsometry is a method of characterization of optical properties of thin films. When a model that connects optical and physico-chemical properties of the material is used, it is possible to assess additional parameters of the film (composition, structure, etc.).

The work will focus on theoterical and practical aspects of spectroscopic ellipsometry and optical properties of plasma polymers and their nanocomposites. Subsequently, selected plasma polymer films will be characterized.

The work can be focused more experimentally as well as more theoretically.
 
Univerzita Karlova | Informační systém UK