Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu
| Název práce v jazyce práce (slovenština): | Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu |
|---|---|
| Název práce v češtině: | Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu |
| Název v anglickém jazyce: | Preparation of nanostructure samples in SEM/FIB and their study in TEM |
| Klíčová slova: | oxid céru, lamela, SEM, TEM, FIB |
| Klíčová slova anglicky: | cerium oxide, lamella, SEM, TEM, FIB |
| Akademický rok vypsání: | 2011/2012 |
| Typ práce: | diplomová práce |
| Jazyk práce: | slovenština |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | prof. Mgr. Iva Matolínová, Dr. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 13.12.2011 |
| Datum zadání: | 14.12.2011 |
| Datum potvrzení stud. oddělením: | 20.01.2012 |
| Datum a čas obhajoby: | 18.05.2012 00:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 24.04.2012 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 24.04.2012 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 18.05.2012 |
| Oponenti: | doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. |
| Konzultanti: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Zásady pro vypracování |
| 1) Bibliografická rešerše.
2) Zvládnutí základních funkcí ovládání SEM a FIB. 3) Příprava lamel a jejich kontaktování v SEM/FIB s cílem přenesení na povrch mřížky pro TEM. 4) Studium struktury tenkých vrstev elektronovou mikroskopií. 5) Vyhodnocení výsledků a sepsání diplomové práce. |
| Seznam odborné literatury |
| 1) NANOTECHNOLOGY IN CATALYSIS, B. Zhou, S. Han, R. Raja, G.A. Somorjai, Springer, ISBN 978-0387-34687-8, New York 2007.
2) Physical Principles of Electron Microscopy, R. F. Egerton, Springer, ISBN 978-0387-25800-0, Edmonton, Kanada 2007. 3) PHYSICS AND CHEMISTRY OF INTERFACES, H-J Butt, K. Graf, M. Kappl, Willey-VCH, ISBN 978-3-527-40629-6, Weinheim 2006. 4) R. Wirth, Chemical Geology 261 (2009) 217. |
| Předběžná náplň práce |
| Fyzikální a chemické vlastnosti materiálů jsou významně ovlivněny jejich strukturou a chemickým složením. Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) je mocným nástrojem pro komplexní charakterizaci široké škály materiálů. Vyžaduje však specifickou přípravu vzorků, speciálně v případě velmi tenkých vrstev. Fokusovaný svazek iontů (FIB), který pracuje na principu odprašování materiálu urychlenými těžkými ionty (např. Ga+), je ideálním nástrojem pro přípravu vzorků pro TEM, neboť dokáže opracovat materiály do podoby velmi tenké folie, která je pro elektrony s vysokou energií průhledná.
V rámci vypsané práce budou v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) LYRA v kombinaci s fokusovaným svazkem iontů (FIB) studovány možnosti vytváření lamel různých materiálů. Parametry přípravy budou optimalizovány tak, aby výsledná tloušťka lamel po vyleštění povrchu dosahovala přibližně 80 nm. Speciální pozornost bude zaměřena na typ ochranné vrstvy. Připravené lamely budou pomocí integrovaného nanomanipulátoru přeneseny a uchyceny na mřížce pro TEM. Struktura velmi tenkých vrstev bude studována v TEM s vysokým rozlišením (HRTEM) či v řádkovacím modu (STEM). Chemické složení vrstev bude charakterizováno pomocí energiově disperzní rentgenovské spektroskopie (EDX) a spektroskopií charakteristických ztrát (EELS). http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=640 |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=640 |