Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.

Oral and written part. Written part consists in solution of simple problem without long calculations (max. 30 min). Oral part follows the problem (max. 45 min).

Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004

Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004

Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.

Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a

morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur.

Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro

studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium

reálné struktury tenkých vrstev.

Application of kinematic and dynamic diffraction theory to study of the structure and morphology

of polycrystalline, nanocrystalline and amorphous thin films and low-dimensional structures.

High-angle and low-angle scattering. Fundamentals of dynamic theory of diffraction and their

applications for the study of epitaxial layers. Basic experimental techniques used for X-ray diffraction study

of real structure of thin films.