Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl odpřednášen.

Oral and written examination. Written part consists of solution of simple problem non-requiring long calculation (max. 30 min). Oral part follows and it is usually about 45 min.

Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011

Václav Valvoda, Milena Polcarová, Pavel Lukáč: Základy strukturní analýzy. Univerzita Karlova. Praha 1992.

I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985.

Další

Maureen M. Julian: Foundations of Crystallography with Computer Applications. CRC Press. Taylor and Francis Group. 2015

Boris K. Vainshtein: Modern crystallography. Vol. 1. Fundamentals of crystals. Symmetry, and methods of structural crystallography. (Second enlarged edition.) Berlin: Springer-Verlag, 1994

Robert E. Newnham: Properties of Materials. Anisotropy. Symmetry. Structure. Oxford University Press. 2005

Marc de Graaf and Michael McHenry: Structure of Materials. An Introduction to Crystallograhy, Diffraction and Symmetry. Cambridge University Press. 2007

Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011

Václav Valvoda, Milena Polcarová, Pavel Lukáč: Základy strukturní analýzy. Univerzita Karlova. Praha 1992.

I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985.

Další

Maureen M. Julian: Foundations of Crystallography with Computer Applications. CRC Press. Taylor and Francis Group. 2015

Boris K. Vainshtein: Modern crystallography. Vol. 1. Fundamentals of crystals. Symmetry, and methods of structural crystallography. (Second enlarged edition.) Berlin: Springer-Verlag, 1994

Robert E. Newnham: Properties of Materials. Anisotropy. Symmetry. Structure. Oxford University Press. 2005

Marc de Graaf and Michael McHenry: Structure of Materials. An Introduction to Crystallograhy, Diffraction and Symmetry. Cambridge University Press. 2007

Požadavky zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl odpřednášen.

I. Struktura krystalu a nauka o symetrii.

1. Historie krystalografie a strukturní analýzy. Translační periodicita krystalů, značení směrů a rovin, základní buňky. Transformace os a indexů rovin. Operace symetrie. Maticový zápis operací symetrie. Stereografická projekce. Grupy, multiplikační tabulky. Bodové grupy. Hermann-Maguinovy symboly. Bravaisovy mříže.

2. Krystalografické soustavy. Rovinné mříže a rovinné grupy.

3. Prostorové grupy. Ekvivalentní polohy. Wyckoffova notace. Mezinárodní krystalografické tabulky.

4. Tvar krystalů. Chemické vazby. Chemická krystalografie. Strukturní typy. Příklady základních strukturních typů. Krystalografické databáze a programy na zobrazování struktur.

4. Vliv krystalové symetrie na vlastnosti látek. Tenzory a anizotropie makroskopických vlastností. Princip Neumannův, Voigtův a Curieův.

II. Teorie difrakce.

1. Geometrické principy difrakce. Reciproká mříž. Laueovy difrakční podmínky. Ewaldova konstrukce.

2. Interakce rtg. záření s hmotou. Absorpce záření v materiálu. Rovinná a kulová vlna. Thompsonův a Comptonův rozptyl. Rozptyl na atomu a souboru atomů. Atomový rozptylový faktor, anomální disperze a anomální absorpce. Zavedení strukturního faktoru. Elektronová hustota a Fourierova transformace. Základní atributy difrakčních maxim (poloha, intenzita, šířka, tvar) podle kinematické teorie difrakce.

3. Statické a dynamické výchylky, teplotní faktor. Pojem koherenční délky fotonu. Krystaly s konečnými rozměry.

4. Dynamická teorie difrakce. Vlnová rovnice pro periodické prostředí, 1-vlnná a dvouvlnná aproximace, některé experimentální efekty (Pendellösung, Borrmannuv jev), vlnová pole v difraktujícím krystalu

5. Srovnání rozptylu rtg záření, neutronů a elektronů

I. Crystal structure and symmetry.

1. History of crystallography and structure analysis. Translation periodicity of crystals. Notation of crystallographic directions and planes, elementary cells. Transformations of axes and plane indices. Matrix notation of symmetry operations. Stereographic projections. Groups, multiplication tables. Point groups. Hermann-Mauguin symbols. Bravais lattices.

2. Crystallographic systems. Plane lattice and plane groups.

3. Space groups. Equivalent positions. Wyckoff notation. International tables of crystallography.

4. Crystal shape. Chemical bonding. Chemical crystallogrpahy. Structure types. Examples of basic structure types. Crystallographic databases and software for crystal structure visualization.

5. Influence of crystal symmetry on properties of compounds. Tensors and anisotropy of macroscopic properties. Neumann principle. Voigt principle. Curie principle.

II. Diffraction theory.

1. Geometric principles of diffraction. Reciprocal lattice. Laue conditions. Ewald construction.

2. Interaction of X-rays with matter. Absorption of radiation in material. Plane and spherical wave. Thomson and Compton scattering. Scattering on atom and ensamble of atoms. Atomic scattering factor, anomalous dispersion and absorption. Introduction of structure factor. Electron density and Fourier transformation. Basic atributes of diffraction peaks (position, intensity, width, shape) in kinematic theory of diffraction.

3. Static and dynamic displacements, temperature factor. Coherence length of photon. Crystals of finite dimensions.

4. Dynamic theory of diffraction. Wave equation for periodic medium. Single wave and two wave approximation. Some experimental effects - Pendellösung, Borrmann effect. Wave field in the diffracting crystal.

5. Comparison of scattering by X-rays, neutrons and electrons.