Předmět je zakončen ústní zkouškou. Podmínkou pro připuštění ke zkoušce je zápočet. K zápočtu je nutná účast na praktické části výuky a vypracování požadovaných referátů ze zadaných úloh. Referát se odevzdává jeden za skupinu (ve skupině 1-3 studenti).

Václav Valvoda, Milena Polcarová, Pavel Lukáč: Základy strukturní analýzy. Univerzita Karlova. Praha 1992.

Ivo Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985.

Experimentální techniky v rentgenové a neutronové strukturní analýze. Krystalografická společnost. Praha 1994. ed. R. Kužel.

Miroslav Karlík, Úvod do transmisní elektonové mikroskopie, České vysoké učení technické, 2011, ISBN: 978-80-01-04729-3

B. Voigtlaender: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2015

D .B. Williams , C.B. Carter: Transmission electron microscopy - A textbook for materials science, Plenum Press, NY, 1996

L. Reimer: Scanning electron microscopy – Physics of image formation and microanalysis, Springer, Berlin Heidelberg, 1985

J. Goldstein, et. al: Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis, Springer, Berlin Heidelberg, 2007

V. Hulínský, K. Jurek: Zkoumání látek elektronovým paprskem, V. Hulínsky, SNTL, Praha 1982

Metody analýzy povrchů - Elektronové spektroskopie , editor L. Eckertová, Academia, 1990

Metody analýzy povrchů - Iontové, sondové aspeciální metody , editoři L. Frank, J. Král, Academia, 2002

Practical Surface Analysis, by Auger and Photoelectron Spectroscopy, ed. D. Briggs and M.P.Seah, Wiley, 1983

Practical Surface Analysis, second edition, Volume 2, Ion and Neutral Spectroscopy, ed. D. Briggs and M.P.Seah, Wiley, 1992

John F. Moulder, Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy: A Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data, Physical Electronics Division, Perkin-Elmer Corporation, 1992

G. Beamson and D. Briggs, High resolution XPS of organic polymers : the Scienta ESCA300 database,Wiley, 1992

C. P. Slichter, Principles of magnetic resonance, Springer 1990

Bernhard Blumich, Essential NMR, Springer 2005

Zkouška je ústní se zadáním dvou otázek z probírané tématiky a možností přípravy na místě. Dále pak jsou možné doplňující krátké otázky. Zkouší zpravidla dva vyučující.

Ke zkoušce je vyžadován zápočet.

1.Difrakční metody studia struktury a mikrostruktury materiálů (rtg, neutronová a elektronová difrakce).

2.Mikroskopické metody studia materiálů (optická, elektronová transmisní a rastrovací mikroskopie).

3.Struktura povrchů a tenkých vrstev a metody jejího studia - difrakční, spektroskopické, mikroskopické.

4.Jaderné metody a jejich využití pro studium atomové, elektronové a magnetické struktury.

1.Diffraction methods of study of crystal and real structure of materials (X-ray, neutron, electron diffraction).

2.Microscopic methods of study of materials (electron scanning and transmission microscopy).

3.Structure of surfaces and thin films and methods of their study - diffraction, spectroscopic, microscopic.

4.Nuclear methods and their application for study of atomic, electronic and magnetic structure.