Molecular and Ion Spectroscopy - NEVF148
|
|
|
||
Last update: T_KEVF (21.03.2003)
|
|
||
Last update: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.06.2019)
Podmínkou zakončení předmětu je úspěšné složení zkoušky, tj. hodnocení zkoušky známkou "výborně", "velmi dobře" nebo "dobře". Zkouška musí být složena v období předepsaném harmonogramem akademického roku, ve kterém student předmět zapsal. |
|
||
Last update: T_KEVF (16.05.2005)
D.P. Woodruff, T.A. Delchar: Modern Techniques of Surface Science, University Press, Cambridge, Great Britain, 1986 . L. Frank, J. Král (editors): Metody analýzy povrchů III: Iontové, sondové a speciální metody, ACADEMIA, Praha 2002. |
|
||
Last update: doc. RNDr. Štěpán Roučka, Ph.D. (06.10.2020)
The lecture is conducted on-line in the winter semester 2020. For more information, see https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html |
|
||
Last update: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (18.10.2017)
Zkouška probíhá ústně, otázky pokrývají sylabus v předneseném rozsahu. |
|
||
Last update: T_KEVF (16.05.2005)
2. Charge exchange between ions and surface Spectroscopy based on a neutralisation of incident ions (Ion Neutralisation Spectroscopy). Neutralisation by means of Auger transfer, deexcitation, experimental arrangement. 3. Ion scattering, methods based on it Ion Scattering Spectroscopy and its modifications (LEIS, HEIS). 4. Ion sputtering, depth profiling Collision cascade, sputtering yield, depth resolution. 5. Secondary Ion Mass Spectroscopy (SIMS) Ion yield, energy spectrum of secondary ions, static and dynamical SIMS. Experimental arrangement. 6. Electronically Stimulated Desorption (ESD) Principles, arrangement, detection. Time-of-flight and other analysis techniques. 7. Atomic and molecular beam scattering Beam - surface interaction, elastic and non-elastic scattering, instrumentation. 8. Other methods based on the ion spectroscopy |