hidden - assigned and confirmed by the Study Dept.
Date of registration:
27.09.2013
Date of assignment:
27.09.2013
Confirmed by Study dept. on:
31.01.2014
Date and time of defence:
20.09.2018 00:00
Date of electronic submission:
26.07.2018
Date of submission of printed version:
26.07.2018
Date of proceeded defence:
20.09.2018
Opponents:
doc. Ing. Jan Čechal, Ph.D.
Mgr. Martin Švec, Ph.D.
Advisors:
doc. RNDr. Viktor Johánek, Ph.D.
Guidelines
Cílem navrhované práce je výzkum elektronové struktury a reaktivity modelových katalyzátorů založených na oxidech ceru. V rámci tohoto tématu se budou studovat ultratenké vrstvy kysličníku ceritého a jejich reakce s kovovou podložkou a adsorbovanými plyny metodou rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS = ESCA) a komplementarními technikami. Experimenty budou probíhat na kombinované aparatuře pro scanovací tunelovou mikroskopii (STM), difrakci pomalých elektronů (LEED), termodesorpční spektroskopii (TDS) a XPS.
References
Časopisecká literatura bude upřesněna po konzultaci s vedoucím práce.
Preliminary scope of work
Cílem navrhované práce je výzkum elektronové struktury a reaktivity modelových katalyzátorů založených na oxidech ceru. V rámci tohoto tématu se budou studovat ultratenké vrstvy kysličníku ceritého a jejich reakce s kovovou podložkou a adsorbovanými plyny metodou rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS = ESCA) a komplementarními technikami. Experimenty budou probíhat na kombinované aparatuře pro scanovací tunelovou mikroskopii (STM), difrakci pomalých elektronů (LEED), termodesorpční spektroskopii (TDS) a XPS.
The suggested work is aimed at investigations of the electronic structure and reactivity of model catalysts based on cerium oxides. In frame of this topic interactions of ultra thin layers of ceria with metal support and adsorbed gases will be studied by means of X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS = ESCA) and complementary spectroscopic techniques. The experiments will take place on a combined apparatus for Scanning Tunnelling Microscopy (STM), Low Energy Electron Diffraction (LEED), Thermo Desorption Spectroscopy (TDS) and XPS.