Témata prací (Výběr práce)Témata prací (Výběr práce)(verze: 368)
Detail práce
   Přihlásit přes CAS
Studium modelových systémů kov/oxid metodou RHEED a metodami elektronových spektroskopií
Název práce v češtině: Studium modelových systémů kov/oxid metodou RHEED
a metodami elektronových spektroskopií
Název v anglickém jazyce: Study of metal-oxide model systems by methods of electron
spectroscopy and diffraction
Akademický rok vypsání: 2009/2010
Typ práce: diplomová práce
Jazyk práce:
Ústav: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Vedoucí / školitel: prof. RNDr. Karel Mašek, Ph.D.
Řešitel:
Konzultanti: prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Zásady pro vypracování
1) seznámení se s laboratorním systémem RHEED a XPS-AES
2) příprava tenkých epitaxních vrstev WOx/ W(110)
3) příprava a studium systémů kov-oxid
4) vyhodnocení a interpretace naměřených dat
Seznam odborné literatury
1) L. Eckertová, L. Frank, Metody analýzy povrchů ? Elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha, 1996
2) L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, Elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990
3) Slavomír Nemšák, Doktorandská disertační práce, MFF UK Praha, 2008
4) Články v odborných časopisech podle dohody s vedoucím práce
Předběžná náplň práce
Systém kov/oxid tvoří základní stavební součást řady průmyslových aplikací v oblasti elektrotechnického průmyslu, heterogenní katalýzy, detekce plynů apod. Z tohoto důvodu je neustále předmětem širokého výzkumu. V rámci této diplomové práce budou fyzikálně-chemické vlastnosti systému kov-oxid Pd(Pt, Au)/WOx/W(110) studovány metodou reflexní difrakce rychlých elektronů (RHEED) a různými elektronovými spektroskopiemi. Experimentální zařízení je vybaveno vypařovacími elementy pro přípravu tenkých epitaxních vrstev kovů i oxidů. Epitaxní vrstva oxidu wolframu bude připravena pomocí plazmové oxidace povrchu monokrystalu W(110). Komerčním analyzátor RHEA-100 od firmy Staib Instruments umožňuje měření charakteristických ztrát elektronů (EELS) přímo z difraktovaných elektronových svazků (RHEED). Vícekanálový hemisférický analyzátor VSW HA-100 nabízí možnost zkoumání těchto systémů dalšími metodami elektronových spektroskopií (AES ? spektroskopie Augerových elektronů, XPS - fotoelektronová spektroskopie). Současně bude studován i vliv redukce oxidu a případná bimetalická interakce na vlastnosti celého systému.

Navrhovaná diplomová práce úzce souvisí s projekty řešenými ve skupině povrchů KFPP a lze na ni navázat v následném doktorandském studiu. V průběhu studia se předpokládá i účast na měření na Synchrotronu Elettra v Terstu.

http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=621
Předběžná náplň práce v anglickém jazyce
http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=621
 
Univerzita Karlova | Informační systém UK