Optická charakterizace tenkých oxidových vrstev

• Název práce v češtině: Optická charakterizace tenkých oxidových vrstev
• Název v anglickém jazyce: Optical characterization of thin oxide layers
• Klíčová slova: oxidové vrstvy, elipsometrie, voltampérové charakteristiky
• Klíčová slova anglicky: oxide layers, elipsometry, voltampere characteristics
• Akademický rok vypsání: 2014/2015
• Typ práce: bakalářská práce
• Jazyk práce: čeština
• Ústav: Fyzikální ústav UK (32-FUUK)
• Vedoucí / školitel: prof. Ing. Jan Franc, DrSc.
• Řešitel: skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd.
• Datum přihlášení: 01.10.2014
• Datum zadání: 01.10.2014
• Datum potvrzení stud. oddělením: 30.04.2015
• Datum a čas obhajoby: 23.06.2015 00:00
• Datum odevzdání elektronické podoby: 18.05.2015
• Datum odevzdání tištěné podoby: 25.05.2015
• Datum proběhlé obhajoby: 23.06.2015
• Oponenti: doc. RNDr. Pavel Moravec, CSc.

Zásady pro vypracování

1. Prostudovat literaturu ke stanovení optických parametrů vrstevnatých systémů
2. Seznámit se s aparaturou pro měření optické odezvy materiálů elipsometrickou metodou
3. Proměřit soubor vzorků CdTe s oxidovými vrstvami
4. Analyzovat výsledky měření a porovnat závislosti optických parametrů vzorků v závislosti na vlnové délce dopadajícího záření
5. Charakterizovat vliv oxidace na svodový proud měřením voltampérových charakteristik

Seznam odborné literatury

1.P.Malý, Optika, Karolinum 2008